Sonde de Kelvin

Dispositif permettant de mesurer la différence de potentiel de Volta

Peu commune · Technologie · microscope à force atomique · XXIe siècle

2Sonde de Kelvin

Technologie, microscope à force atomiquePC

Innovation. Coûte 1 énergie de moins.

dispositif permettant de mesurer la différence de potentiel de Volta

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1 620

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Résumé Wikipédia

La microscopie à sonde de Kelvin est une technique de microscopie à sonde locale, dérivée de la microscopie à force atomique (AFM), permettant la cartographie des variations locales du potentiel de contact et du travail de sortie avec une résolution nanométrique et une sensibilité pouvant atteindre l’échelle du simple électron. La KPFM est utilisée pour l’étude de matériaux conducteurs, semi-conducteurs, isolants ainsi que de bio-interfaces.

Lire l'article sur Wikipédia

Texte : extrait de l'article Wikipédia « Microscopie à sonde de Kelvin », sous licence CC BY-SA 4.0.

Données : Wikidata (CC0). Image : Kelvin probe force microscopy.svg sur Wikimedia Commons ; auteur et licence sur la page du fichier.

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5William Thomson